Sensofar3D光学轮廓仪Sneox090

Sensofar3D光学轮廓仪Sneox090

品牌:Sensofar
产地:西班牙
型号:S-neox

400-616-7676转3338

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核心参数

产品种类:非接触式轮廓仪/粗糙度仪
工作原理:白光干涉仪
垂直分辨率(nm):0.01nm
横向分辨率:140nm

核心参数

产品种类

非接触式轮廓仪/粗糙度仪

工作原理

白光干涉仪

垂直分辨率(nm)

0.01nm

横向分辨率

140nm

仪器介绍

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---S neox 3D光学轮廓仪---

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简介

S neox是新一代高端测量系统。

其在性能、功能、效率和设计方面优于现有的3D光学轮廓仪。

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一、核心技术


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四合一技术   


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Ai多焦面叠加

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主动照明多焦面叠加是一种为了测量大粗糙表面形状而开发的光学技术。这项技术基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 测量领域的广泛专业知识,专门设计用于补充低放大率下的测量。通过使用主动照明,即使在光学平滑的表面上也能获得更可靠的测量数据,这一点已经得到了改进。该技术的亮点包括高斜率表面(高达86°),更快的速度(3mm/s)和较大的垂直范围测量。


共聚焦

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共聚焦轮廓仪的开发目的是,测量从光滑表面到非常粗糙表面的表面高度。共聚焦轮廓提供更佳的横向分辨率,可达0.14um 水平分辨率,空间采样可减少到0.01um,这是关键尺寸测量的理想选择。高达NA(0.95)和放大倍率(150X)的物镜可用于测量局部斜率超过 70°的光滑表面。对于粗糙表面,可允许 86°。独家的共聚焦算法提供了纳米尺度上的垂直重复性。


干涉

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光学干涉是利用参考镜和样本上产生的两束反射光在零光程差时产生干涉的现象来生成三维干涉图样(干涉图),包含样本表面形貌上的信息。该方式的各种变化可用于具体不同的应用。

PSI(相移干涉法) 

可以用于测量亚埃分辨率的高度光滑和连续表面的高度。可以使用极低的放大率(2.5X)测量具有相同高度分辨率的大视场。

CSI(相干扫描干涉法)

使用白光扫描光滑到中等粗糙表面的表面高度,达到1 nm 的高度分辨率。


薄膜

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薄膜测量技术快速、准确、无损地测量光学透明层的厚度,且不需要样品制备。该系统获取可见光范围内样品的反射光谱,并与软件计算的模拟光谱进行比较,准确地找到匹配的厚度,可以在不到一秒钟的时间内测量出 50nm到1.5um 的透明膜。测量光斑取决于物镜放大率,范围从0.5um到40um。

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二、产品特性


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惊人的测量速度   

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通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机,达到惊人的测量速度。数据采集速度达180fps。标准测量采集速度比以前快5倍。Sneox成为市场上速度极快的表面测量系统。

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可追溯的精确测量   

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每一台S neox都是为了实现精确且可追溯地测量。我们的设备使用符合IS0 25178中的Part 700和Part 600标准的可追溯标准块进行校正。所有的指标,包括高度及水平精度、平面度偏差、系统分辨率等都以测量此类标准块而得到。我们坚持所有的测量设备按照此标准执行。自2007 年以来,Sensofar一直是国际标准化组织(ISO/TC213)技术委员会的成员。

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高分辨率   

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垂直分辨率受到仪器噪声的限制,仪器噪声对于干涉测量是固定的,但共聚焦测量依赖的数值孔径。Sensofar 专有算法以光学仪器更佳的横向分辨率为测量技术提供纳米级系统噪声。所示的形貌是亚纳米(0.3 nm)原子层。由PTB 提供。

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更快的采集速度   

我们的技术(专利 Microdisplay共聚焦技术),搭配全域LED照明光源,以及连续共聚焦的专利扫描算法(该算法可以允许z轴电机快速移动的同时,连续采集拍照)。相比于传统共聚焦的单个光点照明,SENSOFAR的系统比传统激光共聚焦(LSC`s)采集速度快至少5倍。

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DIC观察  

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微分干涉(DIC)用于强调在正常观察中没有对比度的非常小的高度特征。通过使用 Nomarski棱镜,产生了干涉图像,解决了在明视场或共聚焦图像中不可见的亚纳米级结构。

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LED光源的优势 

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用LED做照明光源要比用激光更有优势。首先LED光源可以避免发生激光光源的散斑现象。其次LED光源的使用寿命约50000小时(约25倍于激光)。最重要的是多个LED就意味着可以根据样品的需求选择最合适的波长来测量。

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---S neox 五轴系统---


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简介

     此款S neox Five Axis 3D光学轮廓仪结合了高精度旋转模块和S neox 3D光学轮廓仪的先进检测和分析功能在指定的位置上实现全自动地3D表面测量,并结合在一起,完成全表面的3D立体测量。

      S neox 3D测量技术涵盖了广泛的尺度,包括轮廓变化(多焦面叠加技术)、亚纳米粗糙度(干涉测量技术)或需要更高横向分辨率以及垂直分辨率(共聚焦技术)的临界尺寸。

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 测量原理   

涵盖广泛的尺度领域

S neox 3D测量技术涵盖了广泛的尺度,包括轮廓变化(多焦面叠加技术)、亚纳米粗糙度(干涉测量技术)或需要更高横向分辨率以及垂直分辨率(共聚焦技术)的临界尺寸。

应用范围广泛

S neox Five Axis可以在指定的位置进行全自动3D表面测量,并将所有测量结果组合在一起完成全表面的3D立体测量。

完整的3D测量

S neox Five Axis能够旋转样品,在圆周上相同高度的位置测量一系列3D形貌。

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连接相邻表面测量大于90°的角度     

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测量包含陡角的复杂曲面非常困难,因为阴影效应会阻止您在单次采集中获得完整的测量结果。有必要倾斜样品以便从两个不同的位置测量样品并将两个形貌结果组合以获得完整的测量结果。Five Axis旋转台允许样品沿相反方向定位以使整个表面可见。系统将获取单独的测量值,然后,将自动合并它们以获得完整的3D立体测量。


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准确可靠的表面光洁度测量  

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我们的共聚焦和干涉测量技术允许您测量具有任何级别的粗糙表面,从极粗糙(典型的钢材表面)到大约1A的高反射表面 (金刚石或镜面)。根据NPL、NIST和PTB粗糙度标准,将我们的系统转换为重复且可追溯的系统。多焦面叠加技术使系统对测量大坡度提供了快速、简便的响应。


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多自由度测量无限制          

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通过自动化程序,只需单击一下即可测量样品的不同部分。友好的用户界面允许您在没有任何约束的情况下找到测量位置。然后关注样品的关键部分并将其添加到自动化例程中。最后点击 “获取”,只需单击一下即可获得所有测量部件。这是一种自动化测量程序的快速简便方法。

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---关于我们---

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 星河视域(无锡)智能科技有限公司  

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     我们是一家专业提供产品检验、失效分析和检测设备的一整套解决方案提供商。

     我们不仅可以提供符合实际的技术方案,还能为客户提供快速便捷的售前咨询和售后服务。为国内众多行业头部客户、院校提供高性价比的检测方案和仪器。

   主营西班牙Sensofar、荷兰Semplor、美国Fischione、美国Buehler、德国Fritsch、德国Netzsch、美国Agilent等国际一流品牌。




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